© 2023 Имя сайта. Сайт создан на Wix.com

 

Экспериментальное оборудование

     Основными методиками исследования лаборатории химической физики наноструктур являются зондовые методы:

1. сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия (СТМ/СТС);

2. атомно-силовая микроскопия (АСМ).

         Основой методики СТМ/СТС является измерение туннельного тока, возникающего между металлической иглой (зондом) и проводящим образцом и построение топографии поверхности образца на основе полученных данных (микроскопия) и снятие вольтамперных характеристик туннельного контакта локальной области образца под иглой (спектроскопия). Благодаря явлению туннелирования эта методика обладает рядом преимуществ:

1. возможность получения атомного разрешения;

2. исследование локальных свойств образца;

3. нанолитография.

  Однако метод СТМ/СТС также имеет некоторые ограничения:

1. возможность исследования только проводящих образцов;

2. необходимость  сверхвысокого вакуума;

3. невозможность получения данных об элементном составе образца.

Сканирующий туннельный микроскоп

Тестирование иглы для получения атомного разрешения на примере высокоориентированной поверхности графита

Атомно-силовой микроскоп

      Принцип работы АСМ основан на регистрации силового взаимодействия между образцом и специальным зондом - кантилевером. АСМ обладает худшим разрешением по сравнению с СТМ, однако позволяет работать и с непроводящими образцами. Кроме того, наличие сверхвысоковакуумной техники также необязательно. Нельзя не отметить некоторые сложности измерения топографии образца в бесконтактном режиме и  вероятность повреждения исследуемой поверхности в контактном режиме. 

 

      Также в ходе экспериментов в лабора-тории был создан ряд новых экспери-ментальных методов -  "нанолаборатория", сканирующая туннельная кинетическая микроскопия и сканирующая туннельная резонансная микроскопия, которые позволяют синтезировать и модифицировать единичные поверхностные нанокластеры и тонкие пленки оксидов и исследовать их физико-химические характеристики.

Измерительная головка атомно-силового микроскопа

This site was designed with the
.com
website builder. Create your website today.
Start Now